Raman and PAS Characterization of Electron Irradiated UO2 to Determine U Displacement Threshold

M.F. Barthe (1) , Lionel Desgranges (2) , Ritesh Mohun (3) , Pierre Desgardin (1) , Patrick Simon (1) , Florian Duval (1) , Aurélien Canizarès (1) , Christophe Jegou (4) , Sandrine Miro (5) , Olivier Cavani (6) , Bruno Boizot (6)

1 CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation
2 CEA-DES (ex-DEN) - CEA-Direction des Energies (ex-Direction de l'Energie Nucléaire)
3 SESC - Service d'Etudes de Simulation du Comportement du combustibles
4 CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives
5 Lab JANNUS
6 LSI - Laboratoire des Solides Irradiés - Irradiated Solids Laboratory

Domaines: Matériaux

M.F. Barthe, Lionel Desgranges, Ritesh Mohun, Pierre Desgardin, Patrick Simon, et al.. Raman and PAS Characterization of Electron Irradiated UO2 to Determine U Displacement Threshold. TMS 2017 146th Annual Meeting and Exhibition, Feb 2017, San Diego, United States. ⟨hal-03561789⟩